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浅谈地籍平面控制测量技术

浅谈地籍平面控制测量技术

时间：2018-09-05 03:31:48 由

染雾

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浅谈地籍平面控制测量技术

地籍平面控制测量技术是为初始地籍细部测量和变更地籍测量而布设的平面测量控制网.地籍平面控制在精度上要满足测定界址点坐标精度的要求;在密度上要满足辖区内地籍细部测量的要求;在点位埋设上要顾及目常地籍管理的需要.本文就地籍平面控制测量技术做了相关探索.

作者：许云平作者单位：大连市金州区规划建筑设计院,116100 刊名：城市建设与商

业网点英文刊名： CHENGSHI JIANSHE YU SHANGYE WANGDIAN 年，卷(期)： 2009""(20) 分类号： P2 关键词：地籍图测绘平面控制测量布设

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