ESPI技术测量静态和准动态面内位移(推荐3篇)

ESPI技术测量静态和准动态面内位移 篇一

ESPI（Electronic Speckle Pattern Interferometry）技术是一种非接触式光学测量方法，广泛应用于工程领域中的位移测量及应力分析。本文将重点介绍ESPI技术在测量静态和准动态面内位移方面的应用。

ESPI技术基于干涉原理，通过对物体表面的散斑图案进行分析，可以实时测量出物体表面的形变情况。ESPI技术具有高精度、高灵敏度和非接触式测量的特点，适用于各种材料的位移测量。在静态位移测量方面，ESPI技术可以实时测量出物体表面的形变情况，可以用于材料的力学性能研究、结构变形分析等。在准动态位移测量方面，ESPI技术可以实时测量出物体表面的瞬时位移情况，可以用于振动分析、动态应力分析等。

ESPI技术的测量原理是利用相干光在物体表面形成散斑图案，在物体表面加上一个激励，通过对散斑图案的变化进行分析，可以得到物体表面的位移信息。在静态位移测量中，物体表面无外力作用，ESPI技术通过对物体表面散斑图案的分析，可以得到物体表面的形变情况，并计算出物体表面的位移信息。在准动态位移测量中，物体表面有外力作用，ESPI技术通过对物体表面散斑图案的实时变化进行分析，可以得到物体表面的瞬时位移情况，并计算出物体表面的位移速度信息。

ESPI技术在静态位移测量方面的应用非常广泛。例如，在材料力学性能研究中，可以利用ESPI技术实时测量材料表面的形变情况，进而分析材料的应力分布情况。在结构变形分析中，可以利用ESPI技术实时测量结构表面的形变情况，进而分析结构的变形情况。此外，ESPI技术还可以用于材料的缺陷检测和粘结强度测试等方面。

ESPI技术在准动态位移测量方面也有广泛的应用。例如，在振动分析中，可以利用ESPI技术实时测量振动物体表面的瞬时位移情况，进而分析振动物体的频率和振幅等参数。在动态应力分析中，可以利用ESPI技术实时测量物体表面的瞬时位移情况，进而分析物体表面的应力分布情况。此外，ESPI技术还可以用于动态力学性能研究和结构动力学分析等方面。

综上所述，ESPI技术在测量静态和准动态面内位移方面具有广泛的应用前景。随着该技术的不断发展和改进，相信ESPI技术将在工程领域中发挥更加重要的作用，为工程师们提供更精准的位移测量和应力分析手段。

ESPI技术测量静态和准动态面内位移 篇二

第二篇内容

ESPI技术测量静态和准动态面内位移 篇三

ESPI技术测量静态和准动态面内位移

利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的.静态和准动态面内位移测量技术.采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和

高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便.

作 者：杨福俊 何小元 庄春泉 作者单位：杨福俊,何小元(东南大学工程力学系,江苏,南京,210096)

庄春泉(南京航空航天大学智能材料研究所,江苏,南京,210016)

刊 名：光电子·激光 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER 年，卷(期)： 200314(10) 分类号： O348 关键词：高速CCD摄像 电子散斑图干涉(ESPI) 动态面内位移测量 图像处理