染雾风华贴片电容测试项目与测试方法 篇一
在电子元件中，贴片电容是一种常用的电容器，用于储存电荷和调节电路的性能。为了确保贴片电容的质量和性能符合设计要求，需要进行严格的测试。本文将介绍风华贴片电容测试项目和测试方法。
首先，我们来看一下贴片电容的测试项目。在实际生产中，对贴片电容进行测试时通常要检查以下几个项目：
1. 电容值测试：即测量电容器的实际电容值是否符合规定的额定值。这是最基本的测试项目，也是最常见的测试项目之一。
2. 介质损耗测试：介质损耗是电容器内部介质的能量损耗，也是一个重要的性能指标。通过介质损耗测试可以评估贴片电容的损耗情况。
3. 绝缘电阻测试：绝缘电阻是指电容器的两端之间的电阻值，用于评估电容器的绝缘性能。绝缘电阻测试是确保贴片电容安全可靠工作的重要项目。
4. 温度特性测试：温度特性是指电容器在不同温度下的性能变化。通过温度特性测试可以评估贴片电容在不同工作温度下的表现。
接下来，我们将介绍一些常用的贴片电容测试方法：
1. 电容值测试方法：常用的电容值测试方法包括数字电桥法、LCR表测试法和示波器法。数字电桥法适用于对小电容值的测试，LCR表测试法适用于对中等电容值的测试，示波器法适用于对大电容值的测试。
2. 介质损耗测试方法：介质损耗测试通常采用LCR表进行测试，通过测量电容器的谐振频率和损耗因子来评估介质损耗情况。
3. 绝缘电阻测试方法：绝缘电阻测试一般采用绝缘电阻测试仪进行测试，通过施加一定的电压来测量电容器两端之间的绝缘电阻值。
4. 温度特性测试方法：温度特性测试通常采用恒温槽或热电阻进行测试，通过改变温度来评估电容器在不同温度下的性能表现。
综上所述，风华贴片电容的测试项目和测试方法是确保贴片电容质量和性能的关键。通过严格的测试，可以保证贴片电容在电子产品中的可靠性和稳定性，为产品的性能提供保障。
风华贴片电容测试项目与测试方法 篇三
风华贴片电容测试项目与测试方法
一、中高压贴片电容器介质耐电强度的测试方法：
Measurement method of dielectric withstanding voltage for high voltage MLCC
额定电压范围 Rated voltage range 100V≤Vr＜500V 500V≤Vr≤1000V 1000V＜Vr≤2000V 2000V＜Vr≤5000V
耐电性能的测试方法 Measuring Method
施加额定电压的200%, 5秒, 最大电流不超过50mA
Force 200%Rated voltage for 5 second. Max..current should not exceed 50 mA. 施加额定电压的150%, 5秒, 最大电流不超过50mA
Force 150%Rated voltage for 5 second. Max..current should not exceed 50 mA. 施加额定电压的120%, 5秒, 最大电流不超过50mA
Force 120%Rated voltage for 5 seconds. Max..current should not exceed 50 mA. 施加额定电压的120%, 5秒, 最大电流不超过10mA
二、贴片电容可靠性测试 Reliability Test
项目
Item
技术规格
Technical Specification
应符合指定的误差级别 Should be within the specified tolerance.
测 试 方 法
Test Method and Remarks
测试电压 测试频率
标称容量
Measuring Measuring
Capacitance
Frequency Voltage
≤1000pF 1MHZ±10%
1.0±0.2Vrms
＞1000 pF 1KHZ±10%
测试温度： 25℃±3℃ Test Temprature: 25℃±3℃
C≤10?F：测试频率: 1KHZ±10%
测试电压: 1.0±0.2Vrms Test Frequency: 1KHZ±10% Test Voltage: 1.0±0.2Vrms
C＞10?F
X7R、Y5V：测试频率: 120±24 HZ
测试电压:0.5±0.1Vrms Test Frequency: 120±24 HZ Test Voltage: 0.5±0.1Vrms
Z5U： 测试频率:1±0.1KHZ
测试电压:0.5±0.05Vrms
Test Frequency: 1±0.1KHZ Test Voltage: 0.5±0.05Vrms
测试电压 测试频率
标称容量
Measuring Measuring
Capacitance
Frequency Voltage
Cr＜5 pF 1MHZ±10%
1MHZ±10% 5pF≤Cr＜50 pF
1.0±0.2Vrms
50pF≤Cr≤1000 pF 1MHZ±10%
＞1000 pF 1KHZ±10%
Ⅰ类
ClassⅠ
容量 Capacitance
应符合指定的误差级
Ⅱ类别
Class Ⅱ Should be within the
specified tolerance.
损耗角正切(DF, tanδ) Dissipation Factor
DF
Ⅰ类 ClassⅠ
≤0.56%
1.5[(150/Cr)+7]×10-4
≤0.15% ≤0.15%
多层片式陶瓷电容器
MULTILAYERCHIPCERAMICCAPACITOR
项目
Item
技术规格 Technical Specification
≥50V
25V
16V
10V
测 试 方 法
Test Method and Remarks
6.3V ≤7.5%
C≤10?F
测试频率: 1KHZ±10%
X7R
≤2.5% ≤3.5% ≤5.0% ≤5.0%
测试电压: 1.0±0.2Vrms Test Frequency: 1KHZ±10% （C＜3.3?F）
≤10.0% Test Voltage: 1.0±0.2Vrms （C≥3.3?F）
C＞10?F X7R、Y5V
6.3V 测试频率: 120±24 HZ
测试电压:0.5±0.1Vrms
Y5V ≤7.0%
Z5U （C＜1.0?F）
≤9.0%
（C≥1.0?F）
Test Frequency: 120±24 HZ Test Voltage: 0.5±0.1Vrms
≤12.5%
≤12.5%
≤12.5%
Z5U:测试频率:1±0.1KHZ
测试电压:0.5±0.05Vrms Test Frequency: 1±0.1KHZ Test Voltage: 0.5±0.05Vrms
测试电压：额定电压
Ⅰ类 ClassⅠ
绝缘电阻(IR) Insulation Resistance
Ⅱ类Class Ⅱ
Y5V Z5U X7R
C≤25 nF, Ri≥10000MΩ C＞25 nF, Ri?CR＞100S C≤25 nF, Ri≥4000MΩ C＞25 nF, Ri?CR＞100S
C≤10 nF, Ri≥50000MΩ C＞10 nF, Ri?CR≥500S
测试时间: 60±5秒 测试湿度：≤75% 测试温度： 25℃±3℃ 测试充放电电流：≤50mA Measuring Voltage: Rated Voltage Duration: 60±5s Test Humidity: ≤75% Test Temprature: 25℃±5℃ Test Current: ≤50mA 测量电压：
Ⅰ类:300%额定电压 Ⅱ类:250%额定电压
介质耐电强度(DWV) Dielectric Withstanding Voltage
不应有介质被击穿或损伤 No breakdown or damage.
时间：1～5秒 充/放电电流：不应超过50mA
(这部分说明不包括中高压MLCC) Measuring Voltage: ClassⅠ:300% Rated voltage ClassⅡ:250% Rated voltage Duration: 1～5s
Charge/ Discharge Current: 50mA max. (This method excludes high-voltage MLCC)
损耗角正切(DF, tanδ) Dissipation Factor
Ⅱ类Class Ⅱ
≥25V
16V
10V
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50
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多层片式陶瓷电容器
MULTILAYERCHIPCERAMICCAPACITOR
项目 技术规格 Item Technical Specification
强度 端头结合
外观无可见损伤
Termination
No visible damage.
Adhesion
测 试 方 法
Test Method and Remarks
施加的力：5N 时间：10±1S Applied Force: 5N Duration: 10±1S
：上限类别温度，1小时 恢复：24预处理（2类）
±1h
初始测量
循环次数：5次，一个循环分以下4步：
阶段 温度（℃） 时间（分钟）
-55
第1步 下限温度(NPO/X7R: 30 Y5V:-25 Z5U:+10) 第2步 第3步
常温 (+20) 上限温度(NPO/X7R:+125 Y5V/Z5U: +85)
2～3 30
※
温度循环
Temperature Cycle
ΔC/C:
Ⅰ类：≤±1%或±1pF ,
取两者中最大者 Ⅱ类： B: ≤±10%
E,F: ≤±20%
ClassⅠ: ≤±1% or ±1pF,
whichever is larger.
ClassⅡ: B: ≤±10% E,F:
2～3 第4步 常温 (+20)
试验后放置（恢复）时间：24±2h
Preheating conditions: up-category temperature, 1h Recovery time: 24±1h Initial Measurement
Cycling Times: 5 times, 1 cycle, 4 steps: Step Time (min.) Temperature（℃）
-55
Low- category temp. (NPO/X7R: 1 30 Y5V:-25 Z5U:+10) Normal temp. (+20) 2～3 2
Up- category temp. (NPO/X7R: +125 30 3 Y5V/Z5U: +85) Normal temp. (+20) 2～3 4
Recovery time after test: 24±2h
潮湿试验 Moisture Resistance
Ⅰ类: ≤±2%或±1pF,
取两者之中较大者 Ⅱ类: B: ≤±10%
E,F: ≤±30% Δ
C/C ClassⅠ: ≤±2% or ±1pF,
whichever is larger.
ClassⅡ: B: ≤±10% E,F: ≤±30% ≤2倍初始标准 DF
Not more than twice of initial value. Ⅰ类：Ri≥2500MΩ或 Ri?CR≥25S
取两者之中较小者.
ClassⅠ: Ri≥2500MΩ或 Ri?CR≥25S whichever is smaller. IR
Ⅱ类：Ri≥1000MΩ或 Ri?CR≥25S
取两者之中较小者.
ClassⅡ: Ri≥1000MΩ或 Ri?CR≥25S whichever is smaller.
外观：无损伤
Appearance: No visible damage.
温度：40±2℃ 湿度：90~95%RH 时间：500小时 放置条件：室温
放置时间：24小时(Ⅰ类)；48小时(Ⅱ类) Temperature：40±2℃ Humidity：90~95%RH Duration：500h
Recovery conditions：Room temperature Recovery Time：24h (Class1) or 48h (Class2)
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技术规格
Technical Specification Ⅰ类：≤±2%或±1pF
取两者之中较大者 Ⅱ类：B: ≤±20%
E,F: ≤±30%
ΔC/C
ClassⅠ:≤±2% or ±1pF,
whichever is larger. ClassⅡ: B: ≤±20%
E,F: ≤±30%
≤2倍初始标准
DF
Not more than twice of initial value. 寿命试验
Life Test Ⅰ类：Ri≥4000MΩ或 Ri?CR≥40S取
两者之中较小者.
ClassⅠ: Ri≥4000MΩ或 Ri?CR≥40S
whichever is smaller.
IR
Ⅱ类：Ri≥2000MΩ或 Ri?CR≥50S取
两者之中较小者.
ClassⅡ: Ri≥2000MΩ或 Ri?CR≥50S whichever is smaller.
外观：无损伤
Visual Appearance: No visible damage.
Ⅰ类：≤±2%或±1pF
取两者之中较大者 Ⅱ类：B: ≤±20% ΔE,F: ≤±30%
C/C ClassⅠ:≤±2% or ±1pF,
whichever is larger. ClassⅡ: B: ≤±20% E,F: ≤±30% 品中高压产
寿命试验 ≤2倍初始标准
DF
Not more than twice of initial value. Middle
&high Ⅰ类：Ri≥4000MΩ或 Ri?CR≥40S取两voltage 者之中较小者. Life Test ClassⅠ: Ri≥4000MΩ或 Ri?CR≥40S
whichever is smaller. IR
Ⅱ类：Ri≥2000MΩ或 Ri?CR≥50S取两
者之中较小者.
ClassⅡ: Ri≥2000MΩ或 Ri?CR≥50S whichever is smaller.
外观：无损伤
Visual Appearance: No visible damage.
项目 Item 测 试 方 法
Test Method and Remarks
低压产品（＜100V）： 电压：1.5倍额定工作电压 时间：1000小时
温度：125℃（NPO、X7R） 85℃（Y5V） 充电电流：不应超过50mA 放置条件：室温
放置时间：24小时（Ⅰ类），或48小时（Ⅱ类）， Low-Voltage（＜100V）：
Applied Voltage: 1.5 × Rated Voltage Duration: 1000h
Temperature：125℃（NPO、X7R） 85℃（Y5V） Charge/ Discharge Current: 50mA max. Recovery Conditions: Room Temperature Recovery Time: 24h (Class 1), or 48h (Class2)
中高压产品：
100V≤额定电压＜500V：2倍工作电压 500V≤额定电压≤1000V：1.5倍工作电压 额定电压＞1000V：1.2倍工作电压 时间：100小时
充电电流：不应超过50mA 温度：125℃（NPO 风华贴片电容测试项目与测试方法X7R）；85℃（Y5V） 放置条件：室温
放置时间：24小时（Ⅰ类），或48小时（Ⅱ类）， Applied Voltage:
100V≤Rated Voltage＜500V：2 Multiple 500V≤Rated Voltage≤1000V：1.5 Multiple ＞1000V Rated Voltage：1.2 Multiple Duration: 100h
Charge/ Discharge Current: 50mA max. Temperature：125℃（NPO X7R）；85℃（Y5V） Recovery Conditions: Room Temperature
Recovery Time: 24h (Class 1), or 48h (Class2)
注解：
※
专门预处理（仅对2类电容器）：
将电容器放在上限类别温度或按详细规范中可能规定的更高温度下经1h后，接着在试验的标准大气条件下恢复24±1h。
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